IC测试的创新

　　高端SoC测试测量设备趋向于灵活性提高，并降低成本。以V93000系列来说，产品系列简洁，只有区区几个系列，却可以完成多种测试，秘诀在于在测试台上可以更换板卡，有的测试设备可以放置20多种板卡。其核心技术也在于这些板卡上Verigy专有的ASIC芯片(Verigy像安捷伦一样，有自己的IC设计团队，因此竞争对手很难模仿)。

　　V101平台是针对低端IC测试的，例如MCU测试，该产品2009年6月才推出，该设备的重要目标是在华的MCU制造商和代工厂。

　　内存市场周期性变化影响显著(图4和图5)，预计2010年下半年内存市场将恢复，其驱动力为智能手机、Windows 7，长期驱动力是SSD(固态硬盘)。据美国应用材料公司的Mike Splinter预测，DRAM将在2010年一季度成为巨大的复苏驱动力。Verigy的V6000系列的特点是AC性能高于880Mbit/s，能同时测试超过18k I/O引脚和4k PPS(可编程电源)。同时可适合各种内存器件，灵活可配置，成本较低。

　　VLSI Research公司预计先进的内存测试卡市场在2010年将达到5亿美元市场(图6)，2013年达到8亿美元市场。Verigy的触压(Touchdown)业务始于2006年，主要做基于MEMS的测试卡，用于内存测试(NOR、DRAM和NAND)。与V6000系列一样，服务同样的客户，但是成本更低。产品用于美国、我国台湾、日本和新加坡等。(相关阅读：近访硅谷:Verigy把半导体测试从高向低延伸http://wangying1.spaces.eepw.com.cn/articles/article/item/68716)