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使用NI软件与PXI硬件,进行高性能、点对多点的高级无线电系统自动化测试

作者:StephenPatterson 时间:2013-02-19 来源:电子产品世界 收藏

开发难题

本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/142062.htm

  为了跟上产品开发安排,我们必须配合产品开发,因此对其中5项板卡设计作出了变更。但又因为在设计之初,已考虑到其必要规格与灵活度,所以重新设计PCB也仅需对夹具进行1项变更。在4RF Communication与CPE systems之间保持良好的通信,并建立项目、配置管理程序之后,软硬件让我们能确保达到同步开发。

的主要限制之一,就是各组板卡需要5分钟测试时间。因此需要优化射频校准算法,确保达到高效率运作。 而PXIe-5663矢量信号分析仪(VSA)与PXIe-5673矢量信号生成器(VSG)均可支持算法的优化程序。

  Aprisa SR的PCB组件包含射频传输与接收电路,且必须连带其外壳一起测试。所以我们也需考虑并纳入射频干扰与屏蔽的情况,再筛选夹具设计。 我们以产品的CAD模型容纳射频屏蔽外壳,构成夹具顶板部分(图3)。只要将板卡置于外壳之中,即可达到测试设备所研发的屏蔽功能。  

  Aprisa SR无线电内建数据加密功能,可产生仿真数据串流,以测试接收器敏感度。通过NI PXIe-5663 VNA,可让NI PXIe-5673 VSG达到不同级别的无线电信号记录与重复传输,再以实际数据测试接收器的敏感度。此方式也代表未来无需变更测试系统的软件,即可改变加密程序。

NI软硬件的关键作用

  开发射频测试系统也包含管理程序的难题。除了需跨多个地点协调项目之外,也必须以高速测试复杂的射频产品,并让设备具备屏蔽功能。

  NI软硬件平台的功能与灵活性,可帮助我们有效开发高度稳定的测试系统、满足4RF公司的所有需求,并能确保配合产品上市时间。 最终我们拥有了低价位的自定义测试系统,它能够测试并支持新款的高性能无线电产品的制造程序。  


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关键词:NI测试系统SCADA

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