无源RFID标签芯片灵敏度测试方法研究
从以上分析可以知道，任何时候，安装有芯片的SMA连接器只有2种接法，或者连接到标签测试仪，或者连接到矢量网络分析仪，如图2所示。RFID测试仪和矢量网络分析仪的输出阻抗均为Z0=50Ω。本文引用地址：//m.amcfsurvey.com/article/155121.htm
测试过程中，矢量网络分析仪能量设置为某一频率下的最小功耗Pmin(由标签测试仪获取的标签芯片最小可工作功率)。芯片工作在最小功耗下，由于安装芯片的SMA头和同轴线的损耗可以忽略不计，因此，所有输入的能量或者被芯片吸收，或者全部被反射回来。由于传输线与标签芯片失配，标签芯片所接收的能量可以通过式(1)计算，即可以得到芯片的能量灵敏度。
Pth=PminTtag=Pmin(1-|Γtag|2) (1)
式中：Ttag是能量传输系数；|Γtag|2是能量反射系数，1-|Γtag|2即为能量传输系数Ttag；Pmin为利用标签测试仪测得的某一个频率下芯片的最低功耗；Pth为芯片的能量灵敏度。实际测试中，利用标签测试仪测得芯片的最低功耗Pmin，将矢量网络分析仪的能量设置为Pmin，测试芯片的反射系数Γ的值，代入式(1)即可得到芯片的灵敏度。
2 芯片灵敏度测试结果
图3将安装有NXP_G2XM芯片的SMA头通过同轴线连接到标签测试仪衰减器的输出端口，扫描芯片工作所需的最低功耗Pmin随频率变化的情况。从图中可以看出，在标签芯片和传输线不匹配的情况下，直接得到芯片功耗随频率变化扫描出的曲线。在800～1 000 MHz频段内，每隔10 MHz采集一个功耗值，由于测试时在标签测试仪的输出口串接20 dB衰减器，因此实际功耗值如图4所示。
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