一种数字IC测试系统的设计

摘 要： 给出一种数字集成电路(IC)测试系统的软硬件设计方案。该系统基于自定义总线结构，可测试宽范围电平。

关键词： 数字集成电路测试；功能测试

随着数字集成电路IC的广泛应用，测试系统就显得越来越重要。在网络化IC可靠性试验及测试系统项目中，需要检验某些具有宽电平范围的军用数字IC芯片，而市场上常见的中小型测试系统可测电平范围达不到要求，而大型测试系统价格昂贵。本文介绍了为此项目研制的一种数字IC测试系统，可测电平范围达