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rSRAM消除“软错误”对电子系统的威胁

作者:eaw 时间:2005-04-28 来源:eaw 收藏
意法半导体()公布的一项新技术rSRAM,完全可以消除近年来不断困扰电子设备制造商的 “软错误”难题。由于该技术对标准SRAM存储单元的改进方法是在单元结构内以垂直方式增装附加电容器,因此,芯片面积以及制造成本都不会受到较大的影响。www.st.com

关键词:ST存储器

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