安捷伦推出第一个非向量测试功能及测量技术

安捷伦推出安捷伦Medalist VTEP v2.0，这是由非向量测试功能组成的套件，其中包括新的NPM测量技术。

这一测试功能是在世界上第一次包括NPM测量技术。用户可以检测连接器上电源管脚和接地管脚中的开路，而许多业内人士曾一度认为这超出了现有测试能力的范围。

随着信号在电路板上传输的速度越来越高，如在PCIe、DDR和SATA 连接器上，正确接地正变得日益关键。随着速度提高，接地针脚上的开路可能会导致信号集成的设计范围降低，误码率(BER)提高，放射电磁干扰(EMI)提高。

安捷伦VTEP v2.0是为帮助制造商检测这些关键缺陷而设计的，功能测试和产品发售中可能检测不到这些缺陷，在后期可能会给制造商带来更高的成本。

此外，通过VTEP v2.0，用户可以获原有得VTEP技术的优势，如更高的灵敏度，更有效地降低噪声；同时获得iVTEP的优势，该技术面向采用最小引线框或不带引线框的超小型集成电路封装。iVTEP还适用于带有散热片的设备及带有附加散热器的器件。

安捷伦在线测试市场经理NK Chari说，“VTEP v2.0提供了非向量测试必须提供的最佳功能。”通过采用原有的VTEP技术作为核心，采用关键创新功能进行增强，如屡获大奖的iVTEP和新的NPM测量技术，VTEP v2.0使得用户可以更好地了解系统状况，弥补了以前在无矢量测量覆盖方面缺失的信息。
Chari接着说，“我们希望制造商获得这种重要的创新技术，我们相信，这一技术将提供前所未有的全新的覆盖范围，正因如此，我们在所有新的Medalist i3070系统中免费提供VTEP v2.0。”

安捷伦今天还为印刷电路板组件推出Medalist i3070在线测试系统。
VTEP v2.0采用与原有VTEP相同的硬件，因此不要求进行硬件升级。