新型的嵌入式存储器测试算法
2．2 内部单元测试的故障模型
对于内部单元，除了上文提到的类似的固定逻辑故障和固定开路故障模型，还有状态转换故障(transition fault)、数据保持故障(data-maintaining fault)、状态耦合故障(coupiing fault)和多重写入故障(multiple access fault)等。
状态转换故障：0→1或1→0的状态转换至少有一个不被正确执行。
数据保持故障：存储单元无法保持一个逻辑值持续一定的时间。
状态耦合故障：当且仅当单元j处于某一个特定状态y(y∈{0，1})时，单元i总是为某一个确定值x(x∈{0，1})，则称单元i耦合于单元j。耦合关系不一定具有对称性，也就是说单元i耦合于单元j，并不一定单元j也耦合于单元i。
多重写入故障：对单元i写入x(x∈{0，1})导致单元j也写入了x，则称单元i有多重写入故障。多重写入故障不一定具有对称性。
3存储器的测试算法
目前存储器的测试算法中比较著名的有March算法及其各种变种算法、Gallop算法，这些算法太过复杂，测试效率不高。本文所提出的算法不仅故障覆盖率能够达到实际应用标准，而且测试效率有明显提高。
3．1 外围互连线的测试算法
存储器外围互连线包括控制线、数据线和地址线。对于控制线的测试没有比较规范的测试方法，但是如果控制线存在故障，存储器基本无法正常工作。一般而言，控制线的故障在对数据线和地址线的简单测试中就能被发现，所以不作专门测试。
数据线和地址线的测试的目的不只是发现故障，更主要的是精确定位故障以便很容易地进行修复或更换。采用“三步法”，该算法不仅能够精确地定位故障，而且还能区分固定逻辑故障和桥接短路故障这两种不同类型，具体算法如表1所列。本文引用地址：//m.amcfsurvey.com/article/149950.htm
第一步测试数据线是否存在开路故障和固定逻辑故障，第二步测试数据线是否存在短路故障，第三步测试地址线是否存在开路或短路故障。在第二步测试结束时进行数据线故障诊断，在第三步测试结束时进行地址线故障诊断。
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