关 闭

新闻中心

EEPW首页>工控自动化>设计应用> 基于SVM的传感器非线性特性校正新方法

基于SVM的传感器非线性特性校正新方法

作者: 时间:2010-12-09 来源:网络 收藏

本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/162590.htm

3.2二维图像非线性校正
有二维图像,其校正前的输出如图4a所示,而实际像点应在栅格线的交叉点。从图4a
不难看出,该存在着严重的非线性,且这种非线性不能以解析式表达。
如式(1)所示,文中介绍的支持向量机每个学习样本的输入数据xi是一个多维向量,样本输出yi是一个数而非向量。待校正的二维图像传感器校正样本{(xaxb)(yayb)
}是二维输入二维输出的数据,因此,不能直接用支持向量机进行校正。
笔者设计两个SVM来解决该问题,一个SVMa用于校正a方向上的误差,其学习样本为{(xaxb)ya};另一个SVMb用于校正b方向上的误差,其学习样本为{(xaxb)yb}。两个SVM设ε=0.01,核函数均选用多项式k(xix)(xi·x1)4
SVMaSVMb分别校正样本数据在ab方向非线性误差,校正结果如图4b
所示。
比较图4b与图4a,校正后的二维图像传感器的非线性已得到校正,精度令人满意。

4结束语
SVM技术应用于传感器非线性特性校正的研究刚起步,国内尚无此类文献。毕竟支持向量机理论和应用还是一个较新的领域,仍处于理论和实验研究阶段。笔者认为支持向量机今后的研究应该集中在以下几个方面:①核函数的构造与选择;②大样本条件下SVM算法研究;③惩罚函数的改进。


上一页 1 2 3 4 下一页

关键词:传感器

评论


相关推荐

技术专区

关闭