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针对容性负载的线性功率放大电路的稳定性设计

作者: 时间:2011-02-14 来源:网络 收藏

第二步:如图8所示,在低频部分,由于阻性反馈Rf和Ri决定的小信号交流增益1/βlow是一个25.1 dB的水平线,其与含有容性压电负载的开环增益Ao1w/CL曲线的闭合率为40 dB/dec,因此,必须提高电路的稳定性。

本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/179842.htm

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第三步:如图9所示,噪声增益相位补偿法是以维持闭环增益不变的基础上,在高频部分增加了放大电路的整体噪声增益,其缺点是减小了闭环带宽,反馈零点相位补偿法是以单位增益稳定性为代价,其优点是提高了闭环带宽。因此,可以根据性能折中的原则,将上述两种相位补偿法相融合。

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由Rn和Cn组成的噪声增益相位补偿网络,提高了在高频部分的小信号交流增益1/βhi:
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如图8所示,噪声增益的零点频率fzl可以按照20 dB/dec的闭合率,由噪声增益的极点频率fp5,向小信号交流增益1/βlow变化。然而,仅靠噪声增益相位补偿法,闭合率仍旧为40 dB/dec。
第四步:如图8所示,反馈零点相位补偿法是在小信号交流增益1/βhi上增加一个极点,极点频率设置在闭合频率fcl十分频处,目的是防止Ao1曲线随时间和温度发生向左漂移,这就可能会导致出现40 dB/dec的闭合率。Cf和Rf的极点频率fp6为:
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如图8所示,由于小信号增益不能小于0 dB,因此,1/β曲线与O dB相交形成了零点频率fz2。
第五步:由于在闭合频率fcl处的闭合率为20 dB/dec,因此,初步完成了该电路的稳定性设计。
2.2.2 相频曲线的稳定性分析
如图10所示,从直流到fcl处,相位裕度φ≥45°,因此该电路应具有较好的稳定性。

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关键词:放大器

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