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ICT及ICT测试原理

作者: 时间:2012-12-18 来源:网络 收藏


应用:小电阻如 0.1Ω~10Ω,小电感,小电容量测时会受到 cable 和探针接触不良的影响,而造成测试不稳,而四线量测就可以解决这些问题。
由二线式改樗南呤搅坎夥ǖ男薷乃得魅缦拢
 a. relay board需做以下修改,JA, JB, JC 跳线拿掉, 使之开路OPEN。
 b. JA0, JA1, JA2, JA3, JB0, JB1, JB2, JB3, JG0, JG1, JG2, JG3

c. 此时Relay board只剩下32点, 因榈诙连接器已被当成sense使用。
 d. 程式方面须做如下设定:


e. 在此设定下,电阻值最小可量测到0.01Ω。


宽频而准确的相位分离量测法
对于在RC或RL并联电路中的R.L.C. 可用相位测量法,分别量出其零件值,由于信号源频率宽广(100Hz到1MHz),因此可以侦测的范围优于一般的,像下图线路中的零件都可以准确量测。


三端点、四端点量测
可对三端点的零件如 TRANSISTOR,DIGITAL TRANSISTOR,FET,SCR等。或四端点零件如 PHOTO COUPLER,做正确的测试,如有反插或零件损坏,必可测出。TRANSISTOR的β值也可量测。

电解电容极性测试
以三端点法侦测铝质电解电容极性反插,可测率100%;以测漏电流方式侦测电解电容极性反插,可测率极高。


软件系统 
JET-300拥有超越一般的软体功能,无论是在测试前的程序制作支持软体, 或是测试后的不良信息和数据分析,都有高水平的表现。在微软中文窗口环境下执行的系统程序,操作容易,功能强大。


最差零件(焊点)排行榜
系统可打印出不良数最多的零件(前十名)和不良次数最多的焊点( 前十点)供厂商做品质控制或制程改善的参考。


测试数据统计的日报表和月报表
图表上半的长条图用以显示当月份每日累积OPEN/SHORT,零件不良率及整个测试的可接受率。图表的下半派图用以清楚明了地显示当日各不良原因的百分比。


网络实时监控系统
如果把多台连到内部网络系统 ,则每一台ICT的测试统计数据都可以在网络上的任何一台计算机上显示,管理者可以很方便地随时查看生产线的状况。


网络错误讯息查询系统
只要把ICT 和检修站都连到内部网络系统, 则在检修站就可以检视到不良板的所有错误讯息,包括:打印机的印出讯息和错误图形显示。


待测板图形显示功能
可在待测板不良发生时,明白显示不良零件或焊点的位置,亦可在零件位置查询时显示零件的位置,此功能可大大缩短不良品检修的时间和程序调适的时间。如果厂内有网络联机系统,则此图形亦可在维修站的屏幕上显示出来。


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关键词:ICT测试原理

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