NI 5665 与传统仪器对比演示-设置与细节

EVM测量

在EVM测试中，使用NIPXIe-5673矢量信号发生器生成一个LTE信号。两个仪器均使用如下设置：

·RBW = 30 kHz
10 dB 衰减
10 次平均
关闭自动峰值检测

图 10. 使用Agilent PXA 和NIPXIe-5665进行LTE EVM 测试。

使用可编程的FPGA进行在线处理

图 11. 将信号处理移至FPGA上进行可以节省时间。

NIFlexRIO非常灵活，可以作为一个协处理器。在这一演示的设置中，所有来自PXIe-5665的数据都是在FPGA上进行处理；而在之前的演示设置中，数据是在嵌入式处理器中进行处理。这一特性的应用非常广泛，例如硬件处理的算法、协议实现以及实时激励-响应等应用。

测试时间比较（包含设置时间）

前面所有的测试演示都只针对单次测量的时间。而在本项测试中，除了测量时间以外，还将考虑设置时间。这在包含多种测试标准的自动化测试（例如功率放大器测试）之中很有必要。

图 12. 若考虑设置时间，NI5665的速度要快20倍。

总结

对于一个典型的测试设置来说，相对于使用Agilent PXA，NI PXIe-5665能够提供相同或者更好的性能，而且在大多数测试中要快14-15倍。同时，NI PXIe-5665的成本要比传统台式仪器小得多。在下表中，对NI 5665以及相对应的Agilent PXA价格进行了比较。

在自动化测试系统中，PXI机箱和MXI控制器的花费通常被系统中的所有仪器均摊。例如，如果一个测试系统中包含两个NI PXIe-5665矢量信号分析仪，并插在一个PXIe机箱中，则机箱和控制器的费用只会发生一次，因此总的投入要少于2 x $58,597。然而，如果一个测试系统中包含两套PXA，则投入为2 x $87,745。

注意：对于自动化测试应用来说，Agilent PXA和NI PXIe-5665在PC和所选编程语言（如LabVIEW、CVI、Visual Studio等）方面的投入是相同的，因此也没有将其纳入到比较当中。