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DDR测试技术介绍与工具分析

作者: 时间:2012-05-04 来源:网络 收藏

前文提到过,信号不同于其他信号,其数据信号是双向的,读信号和写信号同时出现在信号线上。人们很难判断当前捕获到的数据是读信号还是写数据,这就给测试效率会很低,也比较容易出错。有了泰克公司的自动测试软件选项如A和DPOJET,就可使上述信号采集和问题迎刃而解,而且可以加速验证过程。

本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/193939.htm

DDRA的功能特性包括但不限于:

  1.新的自动配置向导,引导用户简便地完成设置和测试配置;

  2.可识别和整个采集中的所有读/写突发;

  3.为读和写绘制DQS和DQ眼图;

  4.使用Pass/Fail极限执行JEDEC一致性测试;

  5.使用片选判定多排测量;

  6.简便地在一致性测试工具和/调试工具之间切换;

  7.使用Pass/Fail信息、统计测量结果和测试设置信息,自动生成合并报告。

  DDRA不是一种独立式工具,可直接与泰克强大的抖动、眼图和定时分析工具DPOJE连接,完成更多测量项目:

  1.周期/频率、占空比、幅度、上升/下降时间测量;

  2.高级抖动、眼图测量和Pass/Fail测试;

  3.多个显示和绘图选项;

  4.报告生成器等。

  对于DDR的数字调试和验证,泰克的TLA7000系列逻辑分析仪+Nexus分析软件和NEXVu插卡式DIMM夹具提供了世界领先的DDR2/3存储器数据采集、分析和协议检验及调试解决方案。

泰克最新的解决方案加快和改善了DDR2/3的数字验证和调试步骤

  图4:泰克最新的解决方案加快和改善了DDR2/3的数字验证和调试步骤。

  泰克提供的NEXVu插卡式DIMM夹具探测解决方案layout符合JEDEC规范,可探测存储器IC信号,逻辑分析仪连接位置超出了普通DIMM高度,DIMM内部带有隔离电阻,降低探头负载效应,可实现最大的信号完整性堪称业界最佳的IC颗粒数字信号测量方法。

  泰克提供的最新DDR3逻辑分析仪模块TLA7BBx是唯一可以捕获所有DDR3速度的逻辑分析仪,提供了足够高的定时分辨率,支持全面调试。同时提供了足够灵活的触发状态机,只触发相关事件。其通道数量可以扩充,且足够高,可以捕获所有要求的信号。

  搭载的Nexus存储器支持套件有效提高了数据分析性能,检验和调试存储器系统操作(包括数据有效窗口、读/写数据操作、DDR命令和模式寄存器初始化),可迅速简便地识别协议违规。

  将上述设备、工具和软件再配上DPO/DSA/MSO70000B高性能示波器,泰克提供了一个全面了解系统特点的平台验证系统(如图5)。这是业界唯一能够捕获和分析所有DDR3速度的解决方案,在所有通道上一直提供了高达20ps的定时分辨率,支持选择性时钟输入,只存储实用数据,并且数字/模拟相关联,可查看整个系统情况。

泰克的DDR平台验证系统可全面了解系统特点

  图5:泰克的DDR平台验证系统可全面了解系统特点。


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关键词:DDR测试技术分析

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