睡觉晶体介绍及其与DLD的关系

请注意:

为了测试DLD特性，设置的最大激励必须足以激活“睡觉”晶体，因此，当第一次测试之后，同一只晶体的DLD将有些变化(通常显的比较好).并且，如果当最大测试激励足以使晶体总是“苏醒”的话，那么，该晶体的表现如同理想晶体一样(可参看以上的理想晶体的DLD曲线).所以，DLD数据的重复性较低，为了准确的测试晶体的DLD，测试将是不可重复的，只能依赖第一次耐测量数据.

如果晶体的DLD特性不随时间，也不随外界作用而变化的话，那么，这只晶体就不是“睡觉”晶体(它可能不是一只好的DLD晶体，但它不是一只“睡觉”晶体)。而因应实际的晶体振荡线路激励的不同，这只晶体，可以是一只合用的(好)晶体，也可以是一只不合用的晶体:

》如果在实际振荡线路的激励下，这样电阻的晶体可以稳定地工作(包括要考虑起动速度)，那么这只晶体是好的。否则，

》如果在实际振荡线路的激励下
，这样电阻的晶体不可以稳定地工作(包括要考虑起动速度)，那么是一只不合用的晶体.

下图为用KH1200π网络测试仪分析一民用晶体的激励和电阻变化的情况



G．晶体DLD的时间特性

晶体的DLD特性可能随时间变化而变化，同时也随外界的作)Il的变化而变化。

以下图形将表示:



当晶体不受外界的作川时(或者说:不工作时)，晶体将逐渐回复到自身的稳定状态:即“睡眠”状态。
当晶体受到“较大”的外界激励作用时，晶体将被“唤醒”而进入苏醒状态。
当晶体受到不算“较大”的外界作用时，晶体将处于“半睡眠”状态。

以上纵座标无刻度，可解释为:

在微激励下的晶体电阻，或DLD-dRs(激励电平于某范围变化时串联电阻之变化)，或DLD-dFs(激励电平于某范围变化时串联频率之变化).

这些参数的绝对值是不同的，但每一参数随时间的变化情况，其曲线形状大概相似。

由于时间和外界作)Il的关系比较复杂，因此，晶体的DLD测试是不可以重复测试的。有时还会影响其它晶体参数的测试重复性。

注意:以上所提到的“稳定”和“不稳定”状态，都是晶体的某种物理状态，当晶体处于“不稳定”状态时，它将趋向于它自身的“稳定”状态。这种情形和用晶体测量仪器打印测试报告中的“Unstable无关