基于BIST的IP核测试方案

　　此模式选择模块实现状态之间的切换，电路简单，易于实现。

　　5 结束语

BIST为嵌入式内核的测试提供了一个可解决的方案，其测试效果明显，故障覆盖率较高，实现简单。通过加入测试外壳可以实现对IP核的访问、隔离、控制，有效地提高了IP核的可测性。但是采用BIST会使电路面积增加额外开销，必须在IP核的可测性和面积之间进行权衡。