基于GPIB和计算机并行口的SoC自动化测试方案

　　利用之前设计的硬软件模块可以完成SoC自动化测试。图2为测试系统框架，

　　图2 测试系统框架

　　图3为利用该系统测试得到的一个数模转换器输出信号的时域波形，

　　图3 合成信号时域波形

　　图4所示为利用该系统得到的该信号的频谱特性。

　　图4 合成信号频谱特性

　　通过相关的GPIB接口总线对设备的控制指令控制频谱仪，可以使频谱的捕捉在4秒钟内完成，整个测试流程在1分钟内完成，有效地节约了测试时间。在多片测试中，测试员启动批处理文件就可以完成快速测试流程。对比传统测试方案，该方案不需要反复更换测试仪器探头及调试测试仪器，只需要更换开关电源及待测芯片即可。