新闻中心

EEPW首页>测试测量>设计应用> USB3.0认证的新测试要求和应对方案详解

USB3.0认证的新测试要求和应对方案详解

作者: 时间:2011-06-27 来源:网络 收藏

本文引用地址: //m.amcfsurvey.com/article/194878.htm

CP1是RJ校准使用的一种时钟码型。许多仪器采用双Diarc方法,把随机性抖动和确定性抖动分开,进行RJ测量。使用时钟码型是为了消除双Dirac方法中的一个缺陷,即其一般会把DDJ报告为RJ,特别是在长码型上。通过使用时钟码型,可以从抖动测量中消除ISI引起的DDJ,提高RJ测量精度。

码型发生器和分析仪之间的有损通道(即参考通道和线缆)在垂直方向和水平方向导致了频率相关损耗,这种损耗的表现是眼图闭合(图6)。为解决这种损耗,可以使用发射机去加重,提升信号的高频成分,以便接收的眼图在10-12(或更低)BER下足够好。

image012.jpg

图6. 波形和眼图可以演示去加重的不同影响,在本例中使用PRBS-7 数据码型。

从眼图上可以看到,在没有去加重时,所有比特位的幅度理论上是相同的。有了去加重,跳变位比非跳变位的幅度要高,有效地提高了信号的高频成分。
在通过有损耗的通道和线缆后,没有去加重的信号的眼图会产生ISI,闭合程度会变严重,而有去加重的信号的眼图是完全张开的。我们从这里可以看到,去加重的量影响着ISI和DDJ的值,进而影响接收机上的眼图张开度。
SSC通常用于同步的数字系统(包括),以降低电磁干扰(EMI)。如果没有SSC,数字信号的频谱在其载频(即5 Gbits/s)及其谐波上将出现高能的尖峰值,可能会超过法规限制(图7)。

image014.jpg

在抖动测量中使用CTLE仿真主要会改善受信号处理方法影响的抖动,即ISI。CTLE仿真不影响与数据码型无关的抖动成分,如RJ和SJ,尽管根据一致性规范(CTS),这两种测量都要求使用CTLE。另一方面,眼高会直接受到影响,因为ISI会影响其测量。

必须使用符合标准抖动传递函数(JTF)的时钟恢复“黄金锁相环”进行抖动测量,如图9中蓝色曲线所示。JTF决定着有多少抖动从输入信号传递到分析仪。在本例中,–3-dB截止频率是4.9 MHz。

image018.jpg

在最低的SJ频率上(JTF的斜坡部分,或PLL环路响应的平坦部分),恢复的时钟可以跟踪数据信号上的抖动。因此,数据中相对于时钟的抖动根据JTF被衰减。在JTF平坦、PLL响应向下倾斜的更高SJ频率上,信号中存在的SJ被转移到下行分析仪。除压力眼图校准过程中的SJ以外,规定所有测量都要使用标准JTF。

一旦校准了压力眼图,可以开始接收机要求进行BER,这不同于其上一代技术USB 2.0。接收机测试要求的唯一测试是采用抖动容限方式的BER 测试。抖动容限测试使用最坏情况下的输入信号来执行接收机测试(上一节中提到的校准的压力眼图)。在压力眼图的基础上, JTF曲线的-3dB截止频率附近的一系列SJ频率(满足相应幅度要求)会被注入到测试信号中,同时误码检测器监测接收机中的错误或误码,计算BER。

结论

随着USB 3.0开始转入主流,成功的发射机一致性和认证测试对新产品上市至关重要。这些产品不仅能与其它USB 3.0设备很好地一起工作,还满足了消费者在各种条件下的性能和可靠性预期。

除大幅度提高性能外,USB 3.0还提出了一系列新的测试要求,与上一代标准相比,带来了更多的设计和认证挑战。幸运的是,市场上提供了一套完整的测试工具和资源,可以帮助您实现SuperSpeed USB徽标认证。


上一页 1 2 3 4 下一页

关键词:USB3.0测试方案

评论


相关推荐

技术专区

关闭