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示波器死区时间和波形捕获率对测量结果的影响

作者: 时间:2011-02-09 来源:网络 收藏

捕获率对结果的影响

很多工程师在硬件调试过程中可能遇会到过这样的情形:在调试的后期阶段,电路板主要器件的焊接基本完成,在进行功能验证过程中,发现系统一运行没多久就会出故障,但是通过查看关键的时钟和使能信号都“没有问题”,最终将故障原因定为在软件原因,然后逐行检查代码,进行软件优化。现在已经对已经有了清晰的认识,对于上面的情形还有一种可能就是漏掉了导致系统故障的偶发信号,图4可以很形象的说明这一问题:

示波器死区时间和波形捕获率对测量的影响(电子工程专辑)
图4:示波器导致丢失关键偶发信号。

由于示波器死区时间的存在,导致示波器可能漏掉关键的异常信号,而给用户显示一个带有欺骗性的结果,最终误导用户的判断,会大大延长调试时间,降低调试效率。

根据公式1,如果捕获时间(即,样本数×分辨率,或10×水平刻度)、捕获率和信号事件发生速率(例如脉冲干扰的重复速率)均已确定,那么增加时间,会加大捕获并显示信号事件的概率:

公式 1:

示波器死区时间和波形捕获率对测量的影响(电子工程专辑)

P:捕获偶发重复信号事件的概率[单位是%]

GlitchRate:信号故障频率(例如,重复脉冲干扰)[单位是1/s]

T:有效捕获时间或波形显示时间(记录长度/采样速率,或记录长度×分辨率,或10×时间量程/格)[单位是s]

AcqRate:波形捕获率[单位是wfms/s]

Tmeasure:时间[单位是s]

如果知道概率,对公式1进行变换,可以计算捕获该偶发信号所需时间:

公式2:

示波器死区时间和波形捕获率对测量的影响(电子工程专辑)

假定某个信号带一个有每秒重复10次的异常。该信号本身以数据形式显示在示波器上,所采用的水平刻度为10ns/div。如果所用显示屏有10个水平格,则可以计算100ns的有效捕获时间。为了确保捕获所需信号事件的置信度较高,需要使用99.9%的概率。现在,所需的测试时间取决于示波器的波形捕获率。下表统计了几种不同的波形捕获率所对应的所需测试时间。

示波器死区时间和波形捕获率对测量的影响(电子工程专辑)
表1:在概率为99.9%(T=100ns,GlitchRate=10/s)的条件下,捕获重复异常信号所需时间。

虽然RS的RTO系列示波器在该条件下的死区时间比还有接近90%左右,但是相比于其他死去时间比在99.5%以上的示波器,其发现偶发异常信号能力确是成数量级的上升,可以帮助工程师极大的提高调试效率。试问:有几位工程师在检查每一个信号时可以在示波器上看超过7秒钟时间呢?

前面也提到,波形捕获率和水平刻度、记录长度、采样率的设置都有关系,在实际测量中,如何根据实际的被测信号在这些参数设置中找到一个平衡点,以最高的捕获概率查看波形,提高调试效率,这是工程师在数字示波器使用过程中需要考虑的问题,这一部分会在以后文章中专门讨论。

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