基于AD7799的热敏电阻高精度测温系统

3 测温电路校准方法
MF51型热敏电阻的电阻值R与温度t之间存在着严重的非线性关系，如图4所示，因此，对其进行校准、计算所采用的方法也是影响测温精度的关键。常见的R-t建模方法有B值法(B为温度量纲，与热敏电阻材料有关)、Steinhart-hart方程法、分段拟合法等，但这些方法都不能满足测量精度的要求。

为得到高精度的R-t关系，设计中不是单独校准热敏电阻，而是采用热敏电阻与测温电路共同校准的方法，这样，可以最大限度减小诸如电桥电阻容差、元器件温漂、A／D模块的缓冲电压失调等元器件本身的非理想特性所带来的系统误差。
利用HJ6A型低温恒温试验箱为热敏电阻提供不同的温度环境，在-4～40℃间相对均匀地取100个温度点，记录此100个温度点下热敏电阻输出所对应的A／D转换值，以此为基础利用插值法，在实际测量中MCU根据即时的A／D转换值可计算得到当前温度值。
该方法虽然需要对每个系统都要单独测量大量温度值和所对应的A／D转换值，但是系统最终的测量精度仅依赖于后期的校正，避免了器件个体差异对精度的影响。

4高精度测温系统软件设计
系统软件是在IAR Embedded Workbench开发环境下采用C语言对单片机编程。单片机通过对AD7799片内寄存器的编程，即通过写其中的寄存器，来实现通道选择、增益选择、转换速度选择和A／D转换等功能。不管读写哪个寄存器，单片机都必须先写通信寄存器，以确定下一步是读或写，是访问哪一个寄存器。软件设计流程如图5所示。