新闻中心

EEPW首页>测试测量>设计应用> 利用数字隔离器简化设计并确 保系统可靠性

利用数字隔离器简化设计并确 保系统可靠性

作者: 时间:2017-01-12 来源:网络 收藏

由于磁性数字隔离器大部分功率消耗于从一个状态切换至另一状态时,故功耗与工作频率呈比例关系。因此,处于空闲状态或者开关速度极低的通道功耗非常小。一旦已确定应用的最大串行时钟速率,即可设计电源来提供支持该速率的充足电流。在利用光耦合器进行设计时,必须确保LED处于关闭状态时电路始终处于空闲状态,以将功耗降至最低。

光耦合器技术进入市场已超过30年;一些工程师对转向新的隔离器技术保持谨慎。大多数制造商都要将产品提交监管机构批准,并清楚展示其隔离器通过了哪些标准。诸如ADI公司数字隔离器的器件均以聚酰亚胺为绝缘体,这种材料也用于许多光耦合器之中。在某些情况下,它们是按照与光耦合器相同的安全标准进行测试,而在其他情况下(如VDE V 0884-10),则专门针对数字隔离器制定了具体标准。例如,表1展示了ADuM140x系列隔离器的机构认证。

其他问题涉及数字隔离器承受过压浪涌的能力,以及它们对共模电压和磁场干扰形式的瞬变的抗干扰能力。幸运的是,借助聚酰亚胺绝缘材料,ADI公司的数字隔离器可以承受最高6 kV的浪涌达10秒。由于隔离栅上只有极低的寄生电容,因此,磁性隔离器相对于其他技术还具有极佳的共模瞬变抗扰度(CMTI)。例如,典型高速光耦合器的CMTI规格为1至10 kV/μs,而磁性数字隔离器可抑制35 kV/μs以上的共模瞬变。

乍一看,对磁场干扰的担心似乎非常合理,因为采用微变压器的隔离器利用磁场来横跨隔离栅发射脉冲。有人可能认为,足够强的磁场可能会干扰脉冲,从而导致输出错误。然而,由于变压器及其空芯的半径非常小,因此只有非常大的磁场或极高的频率才能产生故障。图2所示的最大容许电流和频率仍可以保证AD344x隔离器的输出无故障。例如,只有超过500 A(1 MHz,距离器件5 mm)的电流才可能触发故障输出。理论上,产生错误输出所需要的幅度和频率组合远远超过了绝大多数应用的范围。

高速运行

当隔离测量系统使用高采样速率时,用光耦合器隔离串行总线可能是比较困难的任务。接收器光电二极管的寄生电容限制了光耦合器传输数字信号的速度。您可以通过增加来自LED的光量来提高该寄生电容的充电速度,但这样做会增加功耗。另外,很少有光耦合器在每个封装内只沿同一方向提供两个以上的通道,而且通常不包括与通道间匹配相关的时序规格。虽然假定同一封装中的光耦合器之间具有良好匹配合乎逻辑,但缺少印制的规格意味着您必须做出工程设计假设。与依赖非印制规格的情况相同,大多数谨慎的工程师会选择出充足的设计裕量,工作性能远远低于采用单个光耦合器时数据手册指示的性能。

使用数字隔离器的另一优势是,产品可采用4通道器件形式,保证速度最高可达150 Mbps。另外所有数字隔离器制造商都在数据手册的时序部分提供了保证通道间匹配规格。例如,ADI公司的ADuM344x隔离器在整个工作温度范围内的保证通道间传播延迟失配小于2 ns。实际使用中,这意味着可以在数据手册列出的速度下使用数字隔离器,而无需针对较大或未知的器件间或通道间偏斜来下调系统性能。



评论


技术专区

关闭