基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试

　　（2）在芯片型号检索对话框中输入“74LS08”型号后，点击“确定”按钮即可完成芯片检索的流程。

　　（3）自动测试模式下，系统将调用数据库中被测芯片的完整测试数据，并且完成整个测试集的循环测试。

　　（4）打开系统的串口后，用户需要将被测芯片放入测试插槽中，然后锁死插槽以确定被测芯片的引脚与插槽接触良好。这时只需要点击“开始测试”,系统就会自动进行循环测试。在系统插槽中放入74LS08芯片后的测试结果显示“该芯片功能测试全部通过”,其显示如图3所示。

图3 常规测试结果

　　3.2 故障测试

　　本文以74LS00芯片模拟74LS08芯片的故障片来进行一次故障测试，以验证测试系统对故障的识别。由74LS00芯片和74LS08芯片两款芯片的引脚数与引脚分布方式是一样的。但是在功能上，74LS00芯片为双输入四与非门，而74LS08芯片为双输入四与门。这就意味着，当两者的输入值相同时，芯片功能正确情况下的输出值应该正好相反。这样的输入输出关系可以用来模拟74LS08芯片的全故障情况。这时，用户需要把74LS00芯片锁入测试插槽，点击“开始测试”后的界面如图4所示。

图4 故障测试结果

　　此时，如果被测芯片依然为74LS00芯片，而从上位机的数据库中重新调入74LS00芯片的测试信息进行测试，其测试结果则显示为“该芯片功能测试全部通过”.其显示界面如图3所示。由此可以验证，测试系统对芯片功能故障的判断十分准确，并且测试系统可以准确的识别存在故障的测试矢量位置，以便于用户进行进一步的分析。

　　4.结论

　　本文用FPGA进行了一个芯片功能测试系统，并对其功能进行了验证，实验结果表明该系统测试方法简单，测试过程迅速，测试结果准确。该系统为芯片功能测试提供了一个很好的解决方案，具有重要的应用价值。