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电子可靠性技术:最坏情况分析方法(一)

作者: 时间:2013-11-30 来源:网络 收藏
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  图2:典型值为1,200uF的电容的最坏情况器件参数变化。

  下面对图1中的带通滤波器进行案例分析,给出WCCA分析的性能和结果。对电路的中心频率放大器增益进行分析。假设U6是一个理想放大器(RIN=∞, ROUT=0, AVOL=∞),不考虑它,电路的放大增益计算公式如下,Eq1

  性能要求Af0最小值为7V/V,电阻和电容的典型值和初始容差如下:

电子可靠性技术:最坏情况分析方法(一)
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电子可靠性技术:最坏情况分析方法(一)

  将器件的典型值代入Eq1得到Af0=11.08V/V,显示结果是满足要求的。如果考虑较差的情况,代入每个器件参数的初始容差(±1%),得到Af0=7.84V/V,也在要求范围内。必须注意,器件电阻和电容的初始容差是电路在典型设计和分析时经常采用的,但是,这些值并不表示电路在实际环境中的真正情况。

  最坏情况器件参数变化库

  器件供应商设定器件的初始容差(采购容差),这仅仅保证器件在采购时,所有器件的各个批次都在初始容差范围内,并不保证器件参数会一直在这个容差范围内。器件在工作环境中,其参数会偏移初始值。在许多情况下,特别是在长时间使用后,器件参数偏移会大于初始容差。每种可能的最大偏移都累加在初始容差上,如图2所示。

电子可靠性技术:最坏情况分析方法(一)

  图3:电阻和电容的最坏情况最大最小值。

  WCCA是假设器件使用后,其参数已经处在初始容差值。同时又假设电路中的所有器件同时处于最大偏移值。虽然这种情况似乎不可能发生,但它是可能存在的一个最坏情况。比较可能的情况是一些器件的部分参数超过了初始容差,但不会都达到最大偏移值。如果在最坏情况下,所有器



关键词:电子可靠性

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