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高精度双路相敏放大器的设计(二)

作者: 时间:2013-11-06 来源:网络 收藏
零位:≤±5 mV的难题,从而满足产品性能指标的要求。

  2.2 结构设计

  采用DIP-16平底式全密封金属外壳底座,底座镀金,外壳镀镍,该套材料合格分供方生产工艺已很成熟,便于采购。

  为了便于整机组装,并且能够经得起振动、冲击等机械试验,产品内部尽量采用适合平面组装的片式元件,这样大大简化了组装工艺。封装采用全密封技术,密封在于燥、清洁的氮气中进行,帽与底座之间进行贮能焊封装,封装之后细检的漏气率小于500×10-6kPa·cm3/s,保证产品的气密性、可靠性。

  图10内部结构图。

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2.3 工艺研究

  为保证产品的性能和可靠性,经过大量的工艺实验,最后确定在工艺上采用以下一些特殊工艺措施:

  (1)除芯片电路外,对元件高温存贮后,进行100%筛选检验;

  (2)采用二次套印帮定焊盘的工艺,以保证压焊的可靠性;

  (3)采用厚膜基片与底座焊接的工艺,以确保芯组与底座的机械连接,减小热阻;

  (4)优选所用元器件材料,关键器件采用国外大公司的芯片电路,电容采用npo介质的电容。

  通过认真执行工艺及上述特殊工艺措施的落实,大大提高了生产效率,有效地保证产品的性能和可靠性,取得了良好的效果。

  3 测试及用户使用情况

  测试及用户使用情况如表1所示。测试电路原理如图11所示。

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