使用NI软件与PXI硬件进行高级无线电系统自动化测试

• 测试针可存取板卡另一边的所有测试点

• 包含除错设备

• 可针对未来产品随时扩充，如更多的射频频带与频宽

我们将测试分为3大块：

• DC Testing: 测试组件数值、电源供应电压、耗电量，以及低电压关机、切换面板、LED指示灯的功能性测试。

• Built-In Self Test (BIST): 用于Boot loader与软件安装、测试RAM与闪存、确认以太网的地址分配。我们将这些测试植入设备中，通过指令线路界面即可存取。

• 射频功能性测试与校准： 测试并校准传输器、接收器、Aprisa SR板的系统功能。

图2.最终试系统测

开发难题

为了跟上产品开发安排，我们必须配合产品开发测试系统，因此对其中5项板卡设计作出了变更。但又因为测试系统在设计之初，已考虑到其必要规格与灵活度，所以重新设计PCB也仅需对夹具进行1项变更。在4RF Communication与CPE systems之间保持良好的通信，并建立项目、配置管理程序之后，NI软硬件让我们能确保达到同步开发。

测试系统的主要限制之一，就是各组板卡需要5分钟测试时间。因此需要优化射频校准算法，确保达到高效率运作。 而NI PXIe-5663矢量信号分析仪(VSA)与NI PXIe-5673矢量信号生成器(VSG)均可支持算法的优化程序。

Aprisa SR的PCB组件包含射频传输与接收电路，且必须连带其外壳一起测试。所以我们也需考虑并纳入射频干扰与屏蔽的情况，再筛选夹具设计。 我们以产品的CAD模型容纳射频屏蔽外壳，构成夹具顶板部分(图3)。只要将板卡置于外壳之中，即可达到测试设备所研发的屏蔽功能。