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近场天线测试系统解决大型暗室测试难题

作者: 时间:2013-09-28 来源:网络 收藏
uto; orphans: 2; widows: 2; webkit-text-stroke-width: 0px">  下图所示1950MHz时结果与第4页700MHz时结果相同。图4中每幅图分别列有Hx振幅,Hy振幅,Hx相位和Hy相位。

近场天线测试系统解决大型暗室测试难题

  图4: 1950MHZ时电磁场(H-Field)

  运用同样后期的处理技术和定制程序把1950MHz时的近场测试结果处理转化为远场结果(如下图5)。我们注意到这两个波长结果图与700MHz时波长结果图有相似之处,但1950MHz的波长光速更窄,水平方向不像700MHz波长结果图所显示的那么全方位。

图5:1950MHZ辐射图VS产品说明书中数据

  图5:1950MHZ辐射图VS产品说明书中数据

  注:Φ=0°是垂直截面,Φ=90°是水平截面

结论:近场的优势

  所有移动服务运营商都面临测试大型基站天线的问题。测试这种天线需要配有特殊性能极大且昂贵的全电波暗室。对于这些运营商来说,RFX2天线特性测试系统解决了在测试的难题,即高的让人望而却步费用及耗时的测试过程。

关于RFX2系统

  桌面扫描仪使天线具备了不需要暗室的属性。RFX2不到2秒生成远场天线图案、双侧测试、EIRP和TRP。获得的近场结果包括幅度、极性和相位传递,几乎可以使人们瞬时洞察天线的根本性能。这套系统也支持天线设计分析人员支控制天线远场辐射问题。

关于RFX2天线测试系统

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