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光电倒置开关研制及可靠性分析

作者: 时间:2013-09-12 来源:网络 收藏
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光电倒置开关研制及可靠性分析

  图9 异常波形2

  出现这种情况的原因可能是:对光孔和小锥度腔相贯处有毛刺。在相贯处有毛刺,就会在倒置过程中,对小钢球有阻挡或者粘滞的影响。

  2)开关的输出信号一直为0,无输出。

  出现这种情况的原因可能是:(a)开关和检测系统未连接;(b)在长时间的低温保持环境下,开关内腔内可能存在的水气凝固在开关内腔壁上,形成霜,在低温下,把小钢球和机械壳体粘结在一起,挡住了对光孔。

  3.3 成功比率分析

  检测系统的软件部分波形判断窗口如图10 所示。

  依据成功比率,可以选出可靠性较高的开关用于存储测试装置。

光电倒置开关研制及可靠性分析

  图10 检测系统波形判断窗口

  4 结束语

开关是新概念动态测试技术的基础上的一种低电压驱动、低功率损耗、微小体积开关器件,其中光电部分利用红外系统,具有抗干扰性强,响应速度快等特点。根据实际应用中的倒置开关的可靠性的要求,通过检测系统对开关的检测,分析其可靠性,可靠性越高,开关工作的越稳定,从而使应用开关的系统或者设备性能更加稳定。

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