探讨减少LED寿命损耗的关键因素

　　例如，在对某电视机背光源的测试中，使用IT6200系列直流电源给其供电，测试在100mA的电流下进行，那么，在打开和关闭IT6200系列电源的lowcurrentmode时，其电压变化波形分别如下两幅图所示：

　　在这两幅图中，左图是启用lowcurrentmode时的电压上升曲线，右图是未启用该测试模式时的电压上升曲线，对比两幅图中的电压波形变化不难看出，当启用lowcurrentmode时，电压上升时间缩短，LED产品很快能够被点亮。

　　如果测试的电流再小一些，结果又会如何?现在，再用IT6200系列电源来测试一款手机背光源，设定测试电流值1mA。下图是分别打开和关闭IT6200系列电源的lowcurrentmode时，其电压变化的曲线，可以看出，当测试电流更加微小时，如果不使用Lowcurrentmode，则经过很长一段时间的等待以后，电压仍然无法上升到设定值，也就是说待测LED一直未被点亮，无法开始测试。而当使用了IT6200系列电源的lowcurrentmode以后，电压快速上升到设定值，继而点亮待测LED，开始进行测试。

　　目前，各大LED厂商已经开始选用LED测试专用电源供应器来应对这一问题。搭配LED测试系统进行测试，可有效减少LED产品在测试过程中的寿命折损，同时提高测试效率，使产能得以最大化。