DDR测试--SDRAM时钟分析案例

几天后，我们在实验室重新测试了该系统的时钟，测试仪器为SDA816Zi（带宽16G，采样率40G），探头为ZS1500（带宽1.5GHz）。由于待测试信号频率仅为100MHz，所以通常1G以上示波器和探头足以满足需求（注：对于某些上升时间很快的时钟，比如PCIExpress的100MHz时钟，1GHz的带宽是不够的，需要更高带宽的示波器）。下图2左图为未作端接时在SDRAM芯片端测量时钟波形，右图为靠近SDRAM颗粒并联100欧电阻后的波形，两者相比，前者的过冲高达7.8V，电路板不能正常工作；而后者过冲较小，电路板可以正常工作。

尽管并联了100欧电阻后电路板能正常工作了，但是接收端测量到的峰峰值高达6.2V，对于SDRAM芯片3.3V的工作电压来讲还是比较大的，长期工作可能会导致内存芯片出问题，所以，我们还需改进端接策略。在信号完整性书籍中，通常有串联匹配、并联匹配、RC网络、戴维南网络等端接方法，如下图3所示。相比并联匹配，串联匹配不用提供DC电流到地或者电源，不会对输出的高低电平产生影响，能减小过冲和EMI，所以我们接着尝试串联匹配下的信号质量。

由于电路中ARM的MCU输出的一路100MHz时钟要驱动两个SDRAM芯片，布线上MCU出来的时钟刚出来就分成两路后连向两个SDRAM的时钟引脚，所以我们采用了在两路时钟分支上同时串联100欧电阻加并联10pf电容的端接方法。在PCB上割线，焊上电阻和电容后测量的结果如下图4所示，改进后的时钟峰峰值为3.44V，波形无过冲，信号质量良好。电路板系统运行正常。