USB3.0的物理层发送端测试方案介绍

　　去加重比值测试

　　为了把5Gbps速率的数据传送较远的距离，USB3.0的发送端使用了去加重技术，这项测试可以测量DUT的去加重程度是否满足规范要求（要求在-3dB到-4dB之间）。测试时DUT发送出CP7码流，CP7码型由50-250个连续的1和50-250个连续的0重复交替组成，而且是添加了去加重的信号波形。图3为某USB3.0芯片的去加重测量结果，该芯片采用了-3.47dB的去加重。

图3：某USB3.0芯片的去加重比值测量

　　眼图与抖动测试

　　在USB3.0的TX的眼图和抖动测试中，测量的是待测试信号经过参考测试信道后TP1点的眼图和抖动。如下图4中的Reference test channel即为参考测试信道，在规范中定义了long channel、short channel和3米电缆三种参考测试信道。如果使用long channel或者较长电缆，信号到达接收端时衰减比较大，眼图已经闭合，USB3.0芯片接收端使用了CTLE均衡器对信号进行均衡后（CTLE均衡器介绍见本文最后一部分），信号眼图的质量将大大改善，所以要求测试仪器分析出CTLE均衡器处理后信号的眼图和抖动。

图4：USB3.0的TX的眼图测试点（来自USB3.0规范）

　　如下图所示，左边的眼图是靠近TX近端测量到的眼图；中间的眼图是通过兼容性信道（参考测试信道）后测量的眼图，可见眼图的张开程度较小，抖动较大；右边的眼图是仿真CTLE均衡后的眼图，可见眼高和抖动都得到改善。

图5：USB3.0的Transmitter测试在近端、远端和均衡后的眼图对比

　　眼图和抖动测试中信号源需要发出特别的测试码型，对于眼图测试，需要CP0码型（扰码的D0.0），对于抖动测试，需要CP0码流或者CP1码流（D10.2），前者用于确定性抖动Dj的测量，后者用于随机抖动Rj的测量。眼高必须从连续的1百万个比特叠加的眼图中测量，力科SDA813Zi示波器完成1百万比特的眼图仅需2秒，速度是同类示波器的10-50倍以上。抖动为10e-12误码率时抖动的峰峰值（即总体抖动Tj）。