新闻中心

EEPW首页>设计应用> 手机芯片UV胶绑定可靠性分析

手机芯片UV胶绑定可靠性分析

作者: 时间:2009-07-23 来源:网络 收藏

本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/261236.htm
综合胶水、人工、设备、工艺等方面粗略估算,底部填充工艺的返修成本是UV胶绑定方法的两倍以上。

小结

通过以上试验数据比较和失效分析可以得知:
1、手机主板的芯片最容易失效的部位是四个角部的焊点;
2、运用UV胶绑定或底部填充工艺,主板抗跌可靠性 要比不使用这两种工艺的产品高两倍以上;
3、底部填充工艺对焊点的保护和产品的可靠性的提高 稍优于UV胶绑定工艺,但UV胶绑定在实际应用中 可操作性强,易返修且成本低50%以上;
4、这两种不同的加强可靠性方法,设计者可以根据需要选择相应的工艺。

上一页 1 2 3 下一页

评论


相关推荐

技术专区

关闭