基于LabVIEW的三极管寿命测试系统
4实验结果
本文引用地址：//m.amcfsurvey.com/article/270607.htm在环境温度为25℃，温升为80℃，加热恒流源设置为50 mA，恒压源设置为5 V，开时间设置为2 300 s，关时间设置为7700 s，定时模式下，每隔50 ms采样得到结温图，如图9，结束时刻温度由于周围温度升高，基本很难达到初始的25℃，但是在温度降低到了误差允许范围内。图中，红线由NMOS管背部贴的传感器测量得出的温度变化数据绘出，黑线由采集回来的数据通过结温计算公式计算出的数据描绘出来的，对比下，传感器测出数据的变化趋势和计算结果数据变化保持一致，这就说明了测量结果准确。
图9 温度曲线
5结束语
文中介绍了一个在sbRIO-9612上，用LabVIEW实现控制一个老化测试系统工作，该系统达到了预订采集数据精度和分辨率，满足了快速采集和快速控制等要求，在实际应用中，达到了很好的效果，具有很高的实用价值。
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