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计价秤SoC低成本设计方案

作者:李彦绪 台湾纮康科技股份有限公司 应用工程经理 时间:2009-11-09 来源:电子产品世界 收藏

本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/99685.htm

  综观上述,下文以OIML ClassⅢ规范做电性分析。用一个20kg通过OIML认证的Load Cell,sensitivity = 2mV/V来组装秤量15kg、分辨率为5g的,必须有以下的考虑。

  电子电路要求

  ● RMS Noise(加权噪声电压有效值)

  若Load Cell电压=3V,信号输出最大电压为 (15kg/20kg)×2mV/V×3V=4500000nV;按3000 Count的算出其最小的分辨电压为4500000nV÷(3000×10)=150nV。

  故ADC的RMS Noise最大为150nV。若以1Count滚动判断,则RMS Noise必须小于150nV÷3.3≒45nV才能符合要求。

  ● 温度

  ◎ 温度变化对SPAN的影响。

  OIML在温度测试范围为-10℃~+40℃,在这范围内0g~500g误差不得超过±0.5e,500g~2000g误差不得超过±1e,2000g以上误差不得超过±1.5e。假设Load Cell的PLC=0.7,因此其它的电子设备如ADC就只能分配到PLC=0.3;所以电子设备在0g~500g最大误差为±0.15e;500g~2000g,最大误差为±0.3e,2000g以上最大误差为±0.45e。

  若考虑在15~20℃环境温度校正,温度最大变化范围为±30℃。因此,ADC 跨度(增益)的温度规格为:(0.45e÷3000e) ÷30℃×1000000= 5ppm/℃。

  ◎ 温度变化对漂移的影响。

  OIML对温度造成漂移的要求是温度变化每5℃不得超过1e。假设Load Cell的PLC=0.7,其它电子设备只能分配到0.3;也就是电子设备温度变化每5℃不得超过0.3e。

  因此ADC的温度漂移规格:1000000×(0.3e÷3000e)÷5℃= 20ppm/℃,也就是4500000nV × 20ppm/℃= 90nV/℃。

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