产品名称:【供应】LJZ型双列集成电路老化测试插座
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发布时间:2021-03-29
详细说明:
LJZ型双列集成电路老化测试插座
该系列插座适用于DIP封装的双列直插式集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯
产品型号及规格;
LJZ-14、16、18、24、28、40
主要技术指标;
间距;
2.54mm
环境温度;
-55℃—+155℃
接触电阻;
≤0.01欧
工作电压;
DC500V
单脚插入力;
≤0.2Kg
弹片金层厚度;
1um镍2um金