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数字测试仪下的参数测试单元的设计(图)

  • 本文提出了一种高速度高精度的参数测量单元。该单元应用于数字测试仪,具备16通道选通测试能力和可编程指令集,同时自带的PID循环验证和Kelvin四线连接技术可以有效提高整个模拟参数测量精度,使测量仪在低于50Ω的负载情况下仍能维持不超过千分之一的测试误差。
  • 关键字:数字测试仪PID循环验证FPGA
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