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科利登获《测试与测量世界》Best in Test Award

  • 科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation, 纳斯达克代码：CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的”Best in Test award”（译：最佳测试奖）奖项。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消费类芯片测试系统。Sapphire D-10是一款极紧凑的测试系统，它采用先进科技，集成了更多更好的特性功能。Sapph
  • 关键字：AwardBestinTest测试与测量世界科利登测试测量
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