首页 资讯 商机 下载 拆解 高校 招聘 杂志 会展 EETV 百科 问答 电路图 工程师手册 Datasheet 100例 活动中心 E周刊阅读 样片申请
EEPW首页>> 主题列表>> 硅碎

半导体三极管的失效分析与可靠性研究

  • 三极管在电路中主要起放大和开关作用,产品在实际应用中失效多单,经分析主要故障为短路与开路失效。通过X光、CT扫描、开封等方法分析研究,发现此故障为焊接不良、塌丝导致。对全流程包含设备的生产环节进行整改,并通过优化检测方法、增加显微镜检查以及X光全检等检测设备,提高产品可靠性。
  • 关键字:虚焊硅碎塌丝显微镜X光透视测试方法202201
共1条 1/11

硅碎介绍

您好,目前还没有人创建词条硅碎!
欢迎您创建该词条,阐述对硅碎的理解,并与今后在此搜索硅碎的朋友们分享。 创建词条

热门主题

关于我们- 广告服务- 企业会员服务- 网站地图- 联系我们- 征稿- 友情链接- 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052 京公网安备11010802012473