返回首页|论坛|问答|博客

可控硅dIT/dt测试线路的设计与测量(2012-100例)

该测试线路是在传统的相位控制电路的基础上增加了两个配置，利用该线路当可控硅的控制端触发导通时可产生一个高的上升和下降斜率的电流波通过可控硅的T1和T2，从而可以测量电流的变化率，当可控硅的电特性(静态参数)发生变化时说明该器件已经……
如您已是会员？请登录浏览全文
用户名：
密码： 忘记密码？
下次是否自动登陆：是否
第一次访问EEPW？
不要犹豫，注册成EEPWer，视频、文档、白皮书随你看

关于我们|广告服务|企业会员服务|网站地图|联系我们|友情链接|手机EEPW
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
Copyright ©2000-2020 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
京ICP备12027778号-2