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VHDL RT级可测性检查和改进

资料介绍
在VHDL RT级 综合的基础上，提出了在RT级进行电路可测性检查和改进方法。与一般的可测性分析方法不同，该文不是基于对电路的可控制性和可观察性的量化分析，而是通过检查和改进可测性不佳的局部设计，使得整体电路的可测性得到提升，达到高故障覆盖率。
标签： 可测性设计， 可测性综合， 寄存器传输级， VHDL
VHDL RT级可测性检查和改进
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