首页 | 嵌入式系统 | 显示技术 | 模拟IC/电源 | 元件与制造 | 其他IC/制程 | 消费类电子 | 无线/通信 | 汽车电子 | 工业控制 | 医疗电子 | 测试测量
首页> 分享下载> 其他IC/制程> 提高早期设计周期的 LVS 验证效率

提高早期设计周期的 LVS 验证效率

资料介绍
利用创新的 Calibre® nmLVS-Recon™ 早期验证工具,设计人员可以在早期设计阶段对模块、宏和芯片运行针对性的短路隔离分析和调试。Calibre nmLVS-Recon 短路隔离使用模型专注于实现快速、高效、优先的短路隔离和短路路径调试。
标签: Mentorlvs验证
提高早期设计周期的 LVS 验证效率
本地下载

评论