从混合信号芯片视角看测试

从混合信号芯片视角看测试

标签:NI芯片验证混合信号

公司:NI

分类:技术应用

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课程简介
我们一起来讨论一下混合信号芯片测试,混合信号芯片涵盖模拟信号与数字信号的测量与控制。

一般测试相关的文档多从仪表的操作角度出发,工程师就得花时间理解仪表功能,并且还要想办法对应到自身的芯片应用上。如果芯片的测试软件能够从芯片本身的验证流程去操作,就可以减少工程师花在理解仪表功能上的时间,从而提高工作效率。

传统的测试方法需要耗时几个小时,NI的测试方案仅需几十分钟。这个短视频演示NI的高效测试流程~

在混合信号芯片验证过程中,要提升测试和验证工作的产出就需要:
● 预建的测量项目与开放式框架扩充项目
● 能在交互式环境下调试
● 快速将调试结果扩展至自动化测试流程
● 支持各种自动化环境和编程语言,让项目和团队之间能复用测量IP
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