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【NI技术白皮书】为低功耗验证选择合适的硬件解决方案

资料介绍
【内容摘要】

不容错过的低功耗测试利器

在如今日益互联的世界中,电子设备更加智能,平衡电池性能和使用寿命也变得前所未有的重要。随着消费者对低功耗电子设备需求的提升,低功耗测试成为研发设计的重要环节,迫切需要能满足工程师测试需求的解决方案。

执行低功耗测试有诸多选择,如数字万用表(DMM)和示波器。值得一提的是,高性能数据采集DAQ设备凭借自动归零、斩波及偏移技术加持,能够使测量精度显著提升,可实现有功功率特别是低功率模式下快速高效地精确验证。此外,受益于搭载更高的通道数,可提供足够的测量密度,能够胜任更为复杂的功耗验证要求,进而为低功耗测试最大幅度地保驾护航。

【关于NI】

NI成立于1976年,是一家专注于测试测量领域的科技公司,在上世纪90年代以“虚拟仪器技术”的全新概念开启了测试测量领域“软件定义"的时代,40多年以来,NI不断致力于开发基于软件的测试测量与自动化平台,助力工程师和科学家们解决全球最严峻的难题,获得数以百倍的效率提升;进入移动互联时代,NI从贯穿技术与产品生命周期的测试测量数据入手,结合强大的软件能力,构建更完整的企业级数据链,成为不同行业、不同应用的技术联结者和创新驱动者。

深耕中国23年,NI开放的软件平台和丰富的硬件资源在中国也形成了完整的科技生态,广泛应用于下一代通信、半导体、商业航空航天、交通、能源、医疗、消费电子、工业电子等领域,推动中国科技创新、数字化转型及能源可持续发展。

联系方式
公司地址: 中国(上海)自由贸易试验区海趣路36,58 号2 幢4-7层
官网地址: https://www.ni.com/zh-cn.html
标签: 低功耗测试DAQ
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