新闻中心

EEPW首页>手机与无线通信>业界动态> TD-LTE数据卡芯片明年问世 下半年规模外场测试

TD-LTE数据卡芯片明年问世 下半年规模外场测试

作者: 时间:2009-12-09 来源:通信世界网 收藏

  12月8日消息,在日前召开的“2009(第三届)移动互联网研讨会”上,中国移动研究院黄宇红表示,2009年发展大幅度加速,在系统、产品、测试、认证等方面基本做到与国际同步。

本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/100889.htm

  黄宇红还表示,大家最关心的终端问题也将在明年得到较好的解决,“明年将会有支持的数据卡芯片面世”。据了解,很多厂商也在积极支持TD-LTE系统的发展。

  黄宇红还介绍,中国移动明年下半年将在3个城市大规模部署TD-LTE外场试验网络,每城市基站数量超过100个。



关键词:TD-LTEWiMAX

评论


相关推荐

技术专区

关闭