T3/E3/STS-1 LIU的回波损耗测量

本应用笔记讨论了在线路接口单元(LIU) — Dallas Semiconductor公司的DS3150 — 应用中，如何测量并改进回波损耗(RL)。对回波损耗的定义、要求、测量以及改进方法进行了论述。


回波损耗定义
当高速信号到达传输线路的终端时，如果传输线路没有很好地端接，部分信号能量将会向发送器反射。该反射信号与原始信号混合，这将导致原始信号失真，使LIU接收器很难正确恢复时钟和数据。
回波损耗是原始信号与反射信号的功率比(用dB表示)。因此，回波损耗表示的是反射信号的相对大小，同时也反映了传输线路终端的匹配度或者说失配度。如果在给定频率下测得LIU卡的回波损耗为20dB，则表明在该频率下反射信号比原始信号功率小20dB。


回波损耗要求
对于E3、ITU G.703和ETS 300-686，规定的输入回波损耗如表1所列，输出回波损耗如表2所列。
表1. 输入端最小回波损耗 Frequency Range Return Loss
860kHz to 1720kHz 12dB
1720kHz to 34368kHz 18dB
34368kHz to 51550kHz 14dB

表2. 输出端最小回波损耗 Frequency Range Return Loss
860kHz to 1720kHz 6dB
1720kHz to 51550kHz 8dB



Dallas Semiconductor的LIU回波损耗测量
ETS 300-686规范中的A.2.5和A.2.6细则描述了测量E3回波损耗的测试设备和程序。图1所示的测试装置用于测量输入回波损耗，并验证其是否符合表1所列出的要求。输出回波损耗的测量装置与之相似，只是测量装置被连接到了发送器的输出而非接收器输入。
图1装置中，回波损耗电桥采用的是Wide Band Engineering公司的A57TLSTD。两个50/75阻抗转换器(Wide Band Engineering的A65L)用来连接75电桥与50信号发生器和50频谱分析仪端口。图1中桥右侧的75精密电阻是回波损耗桥的组成部分。Advantest的R3132频谱分析仪作为信号发生器和频谱分析仪。


图1. 回波损耗测量装置

在图1装置中，发生器在860kHz至51550kHz的频率范围内，提供峰值为1V的正弦信号。

若要在测量回波损耗之前检查测试装置，电桥的NTP接口(图1中左侧的接口)应连接至75