新闻中心

EEPW首页>EDA/PCB>业界动态> 基于Multitest Mercury探针的晶片级测试座受好评 测试良品率提高6%

基于Multitest Mercury探针的晶片级测试座受好评 测试良品率提高6%

作者: 时间:2010-09-30 来源:SEMI 收藏

宣布全球最大的无晶圆半导体制造商之一对基于Mercury的座进行了评估,结果发现该产品优于以往传统的POGO型弹簧针解决方案。Mercury测试座有八个试验位,每个试验位将近200个弹簧探针。客户为满足不断增加的产量,已经购买了三十多个测试座。

本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/113158.htm

座已被中国台湾和新加坡的多个测试代工厂采用。客户反映Mercury测试座使测试良品率比以往的方案提高了4-6%,显著节约了测试成本。此外,分包商对Mercury测试座的经久耐用、维护要求低以及低廉的替换探针价格感到满意。

  英国的另一家无晶圆厂制造商购买了数个32试验位Mercury座,并将其中一台发到中国台湾的一家测试分包商,在那里也取得了极大成功。

  Mercury的成功故事包括了数千个用于单粒器件、条带测试和晶片级测试的测试座。Mercury系列因其卓越的机械和电气性能而深受欢迎,其卓越性能则源自其独特的结构和制造流程。

  从性能量化方面来看,探针拥有大约20 GHz的带宽、超过2安培的载流容量、大约1 nH的电感以及50 – 80万次的使用寿命(数值与引脚间距有关)。



评论


技术专区

关闭