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Multitest:Quad Tech概念正是下一代垂直接触技术

—— 卓越测试良品率和超长探针寿命
作者: 时间:2011-11-04 来源:半导体制造 收藏

  设计和制造最终测试分选机、测试座和负载板的厂商公司,日前宣布其Quad Tech概念正是下一代的。因其卓越测试良品率和超长探针寿命,从而具有显著测试成本优势。

本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/125481.htm

  Quad Tech采用非套筒结构,拥有四个内部接触点。该设计实现了出色电气和机械性能。Quad Tech具有高电流功能、高带宽和低电感等特点。从机械性能方面看,Quad Tech的长形变行程可适应更大的Z轴高度公差。

  Quad Tech的设计使可使用独特且极为精确的生产工艺,该生产工艺亦能实现非凡镀层质量。该工艺针对基于Quad Tech的所有测试座,可确保长探针寿命、长清洗周期和令人满意的探针替换成本。

  目前,可供应基于Quad Tech技术的Mercury、Gemini和Gemini Kelvin测试座。

  Quad Tech由 Multitest测试座部门倾力推出。明尼苏达州St. Paul中心潜心致力于研发接触解决方案。



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