NI参加2012年第七届国际微波及天线技术展览会

　　美国国家仪器有限公司(National Instruments, 简称NI)于2012年11月5日至7日参加了在上海举办的第七届国际微波及天线技术展览会，并携手AWR公司(NI全资子公司，专注于微波射频设计与仿真)展示了一系列NI最新微波射频测试解决方案，和从射频设计到验证的全工具链。　　

　　在此次展会中，来自国内外多家微波射频厂商展示了微波行业相关产品，及创新技术，遍及微波应用的各个环节。

　　NI在展会上着重展示了NI在微波射频领域的解决方案，展现了NI多年不断在微波射频领域的投入和针对用户需求研发的成果。这其中包括：

• 40 GHz的矢量收发解决方案。实现信号调制发生，与接收解调。可用于微波通信，及微波雷达等应用领域。
• 微波射频系统半实物仿真解决方案。通过NI LabVIEW软件与AWR 的VSS软件的联合仿真实现“设计+验证”的概念，在设计仿真前端引入物理仪器测量，实现从设计到验证一体化，并可将数字算法在FPGA上实现。可用于微波射频系统数字预失真(DPD)的仿真与验证，以及雷达接收机的设计与验证。
• 实时频谱分析仪。可对特定频段实施实时频谱分析，并可灵活根据需求来实现频率提取和记录功能。

　　与此同时，NI还在现场展示了802.11ac等移动无线终端测试等应用方案，充分体现了NI PXI硬件平台以及LabVIEW软件的性能和优势。NI PXI标准的模块化测试系统平台结合LabVIEW软件及工具包，契合软件无线思想，凭借其灵活、高性能以及可靠性，不仅可以享受到实验室仪器级的性能还能拥有无可比拟的灵活性，以满足不同应用需求。