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安捷伦在中国举办无线研发测试技术研讨会

作者:电子设计应用 时间:2003-03-10 来源:电子设计应用 收藏
全球领先的跨国高科技公司科技(NYSE: A)近日宣布,将于3月下旬在北京、上海、深圳三地主办主题为“加速您的创新与革命”的无线研发测试技术研讨会,与从事手机、无线设备和WLAN设计的射频工程师、协议固件工程师和项目经理共同探讨最新的测试和测量技术。

研讨会将分两个专题同时进行: 1). 2G/2.5G/3G 手机设计与测试技术。提供全方位的无线测试产品和服务,通过设计前期的测试和对数据的深入分析技术加快设计进程,从而降低总测试费用,使所设计的产品更快进入市场。2). WLAN 设计、测试、验证和认证技术。通过提供加速产品上市时间的领先研制与开发测试解决方案加速开发进程。安捷伦的解决方案提供对多模芯片组物理层测试的支持,这是市场上第一种能完成该项测试任务的产品。

本次讨论会聚焦于应对现实研制与开发挑战的解决方案,包括具体的现场演示。安捷伦的应用工程师将和与会者面对面地讨论测试和测量问题。同时,如果与会者在工作中正在使用安捷伦产品,他们将为与会者提供优化工具和运行时间的实用建议。

会议具体安排:

2003 年3月 24 日 北京京伦饭店二楼白鹤厅
2003 年3月 26 日 上海锦江饭店小礼堂
2003 年3月 28 日 深圳香格里拉饭店三楼宴会厅

想了解该研讨会的详细情况,请致电:800-810-0189。



关键词:安捷伦测试测量

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