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泛华测控参加第六届国际测试自动化与仪器仪表学术会议

作者: 时间:2016-10-10 来源:电子产品世界 收藏

  9月19日~21日,由中国仪器仪表学会和北京信息科技大学主办的“2016第六届国际测试与仪器仪表学术会议”在北京召开,泛华受邀携便携式测试平台(TU-9106)及助力于智慧研究所的测试数据管理平台(Data On Demand)参加活动,并做题为《打造智慧研究所的关键技术》的演讲。

本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/201610/311115.htm



关键词:泛华测控自动化

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