stm32 BKP寄存器操作操作寄存器+库函数
BKP在实际应用中可以存入重要数据，防止被恶意查看，或用于断电等。
本例实现对BKP寄存器的读写操作，和入侵检测和处理。主程序中写入寄存器后，依次打印出10个BKP寄存器数据，然后触发GPIOC13的入侵中断（输入低电平），在中断中打印出入侵事件发生后的寄存器内容（复位为0 ）。
直接操作寄存器
用到的寄存器描述如下：
备份数据寄存器x(BKP_DRx) (x = 1 … 10)：低16位[15:0]有效，用来写入或读出备份数据。
备份控制寄存器(BKP_CR)：
低两位有效。
TPAL[1]：侵入检测TAMPER引脚有效电平(TAMPER pin active level)
- 0：侵入检测TAMPER引脚上的高电平会清除所有数据备份寄存器(如果TPE位为1)
- 1：侵入检测TAMPER引脚上的低电平会清除所有数据备份寄存器(如果TPE位为1)
TPE[0]：启动侵入检测TAMPER引脚(TAMPER pin enable)
- 0：侵入检测TAMPER引脚作为通用IO口使用
- 1：开启侵入检测引脚作为侵入检测使用
备份控制/状态寄存器(BKP_CSR):
TIF[9]：侵入中断标志(Tamper interrupt flag) 0：无侵入中断 1：产生侵入中断
当检测到有侵入事件且TPIE位为1时，此位由硬件置1。
通过向CTI位写1来清除此标志位(同时也清除了中断)。如果TPIE位被清除，则此位也会被清除。
TEF[8]：侵入事件标志(Tamper event flag) 0：无侵入事件 1：检测到侵入事件
当检测到侵入事件时此位由硬件置1。通过向CTE位写1可清除此标志位
TPIE[2]：允许侵入TAMPER引脚中断(TAMPER pin interrupt enable)
0：禁止侵入检测中断 1：允许侵入检测中断(BKP_CR寄存器的TPE位也必须被置1)
注1：侵入中断无法将系统内核从低功耗模式唤醒。 注2：仅当系统复位或由待机模式唤醒后才复位该位。
CTI[1]：清除侵入检测中断(Clear tamper interrupt)
0：无效 1：清除侵入检测中断和TIF侵入检测中断标志
CTE[0]：清除侵入检测事件(Clear tamper event)
0：无效 1：清除TEF侵入检测事件标志(并复位侵入检测器)。
要写入BKP寄存器数据必须在 PWR->CR中取消备份区写保护，才可以写入BKP数据。stm32开启入侵检测也不需要设置GPIOC的时钟和输入输出模式。
代码如下：（system.h 和stm32f10x_it.h等相关代码参照stm32 直接操作寄存器开发环境配置）
User/main.c
Library/src/bkp.c
Library/inc/bkp.h
stm12f10x_it.c
}
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