新闻中心

EEPW首页>嵌入式系统>设计应用> 基于CPLD的频率响应特性测试卡设计

基于CPLD的频率响应特性测试卡设计

作者: 时间:2017-06-05 来源:网络 收藏

提出了一种基于特性测试卡设计方案,分析了实现方法,给出了数据处理算法流程,并进行了设计验证实验,结果表明在逐点单频测试状态下,相位和幅值测量与标准仪器相比相位差小于0.5°,幅值差小于0.1dB。

基于特性测试卡设计.pdf

本文引用地址://m.amcfsurvey.com/article/201706/348950.htm


评论


相关推荐

技术专区

关闭