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成像光谱仪在大米砷污染领域的应用

作者: 时间:2013-12-09 来源:网络 收藏
大米砷污染是一个危害的国际性问题。大米砷污染可以通过高光谱成像光谱仪进行检测。高光谱成像光谱数据具有图谱合一的优势,可以点面结合综合光谱曲线进行目标研究。

Anthony Filippi and Burak Güneralp (Dept. of Geography, Texas AM University, College Station, TX), and Lee Tarpley (Texas AM AgriLife Research Center, Beaumont, TX)等人通过SOC710VP便携式可见/近红外高光谱远程检测砷污染的大米。结果表明:美国SOC公司的SOC710VP便携式可见/近红外高光谱是野外检测砷污染大米的有效装备。

SOC710VP便携式可见/近红外高光谱,可以实时获得400-1000nm波长范围内的光谱影像,不需要沉重耗电的扫描云台,重量仅3公斤,可以安装在三脚架上进行测量,非常便于野外和室内的检测工作。



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